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范德堡和条状结构埋层电阻的测试及研究

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摘要

薄层电阻经常被用于PCM以及SPICE模同时我们可以看到,随偏压的变化,JFET器件中的埋层电阻也发生相应的变化.本文研究了条形电阻和范德堡两种标准结构的电阻,同时利用2D、3D器件模拟,给出了优化电阻测试的路径和方法.

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来源
《电子与封装》 |2005年第4期|20-2219|共4页
作者
彭力; 赵文彬;
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作者单位

中国电子科技集团公司第58研究所,江苏,无锡,214035;

中国电子科技集团公司第58研究所,江苏,无锡,214035;

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正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
基区变窄效应; 埋层电阻; 电阻调整; 范德堡; 条状电阻;

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