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龚平;
无锡华润安盛科技有限公司,无锡,214112;
划片; 背面崩裂; 原因分析; 开槽切割;
机译:鲁道夫的NovusEdge被领先的晶圆制造商选择用于裸晶圆边缘和背面检查
机译:晶圆背面保护和薄晶圆加工
机译:单个晶圆背面超音速系统同时从正面和背面去除颗粒
机译:晶圆键合材料和表征综述,以实现晶圆减薄,背面处理和激光切割
机译:晶圆级集成系统的晶圆级有损互连线的电气特性和性能分析。
机译:症状脑血管痉挛在胶母母细胞瘤的晶圆晶圆置换中:一种案例介绍与文学综述
机译:背面晶圆接触硅玻璃集成双极工艺 - 第二部分:热击穿的新分析
机译:GaInassb / alGaassb / Gasb热光电器件,内部背面反射器由晶圆键合形成
机译:形成半导体器件的方法例如MOSFET涉及对蚀刻的掩埋电介质层进行掩膜处理,以部分暴露半导体晶圆的背面,该背面与晶圆堆栈中的主水平面相反
机译:表皮晶圆背面的检查方法,表皮晶圆背面的检查装置,表皮生长装置的脚钉的控制方法以及表皮晶圆的制造方法
机译:处理薄半导体晶圆的步骤包括:热处理晶圆的背面,施加金属基粘合覆盖层,使背面基板与形成导电面的晶圆等接触。
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