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胡永强; 周源;
中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214035;
SKILL; 参数化单元; 抗辐射; 器件版图;
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机译:使用完全耗尽的绝缘体上硅器件的基于电容的Co-60辐射剂量学
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机译:确定未知辐射体的标称输出的期望值和该未知辐射体上的电子热成本分配器的至少一个热耦合参数的期望值的方法以及用于参数化电子热成本分配器的参数化方法
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