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合成孔径激光雷达自适应成像技术

         

摘要

合成孔径激光雷达成像分辨率与成像距离无关,但在相同激光发射功率的情况下,合成孔径激光雷达的成像分辨率要求与成像距离要求是相互矛盾的.为解决这一问题,从合成孔径激光雷达成像的基本原理出发,给出了合成孔径激光雷达成像的方位分辨率与发射孔径的关系以及回波信噪比方程,分析了回波信噪比与成像距离、光源平均发射功率和发射孔径之间的关系.提出了一种合成孔径激光雷达自适应成像技术,成像系统根据回波信噪比自动调整发射孔径大小使回波信噪比限制在一定范围之内,以实现对远距离目标的大孔径低精度成像以及近距离目标的小孔径高精度成像.研究结果可以为合成孔径激光雷达的设计与应用提供一定的参考.

著录项

  • 来源
    《电光与控制》 |2010年第11期|65-68,73|共5页
  • 作者单位

    脉冲功率激光技术国家重点实验室,电子工程学院,合肥,230037;

    中国人民解放军73106部队,江苏,淮安,223300;

    脉冲功率激光技术国家重点实验室,电子工程学院,合肥,230037;

    安徽省电子制约技术重点实验室,合肥,230037;

    脉冲功率激光技术国家重点实验室,电子工程学院,合肥,230037;

    脉冲功率激光技术国家重点实验室,电子工程学院,合肥,230037;

    安徽省电子制约技术重点实验室,合肥,230037;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 航空雷达;
  • 关键词

    相干光学; 合成孔径激光雷达; 自适应控制; 信噪比;

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