仪器设备：吉时利推出脉冲式半导体器件特性测量方案

摘要

吉时利（Keithley）仪器公司日前宣布在4200型半导体特性分析系统中新增脉冲信号发生和测量功能，支持脉冲式的半导体特性分析功能。新的PIV（脉冲Ⅰ—Ⅴ）子系统更便于进行高介电（High—k）材料、热敏感器件和先进存储芯片等的前沿技术研究，测量更加准确，产品投入市场更快。这是第一款商用化的集成了精确、可重复的脉冲和DC测量于一体的解决方案，而且使用非常方便。