SOC混合信号测试难题的解决策略

谭永红

首页> 中文期刊> 《电子测试》 >SOC混合信号测试难题的解决策略

SOC混合信号测试难题的解决策略

开具论文收录证明 >>

期刊封面封底目录下载 >>

文献代查 >>

团队文献服务 >>

页面导航

摘要
著录项
引文网络
相似文献
相关主题

摘要

缺乏可控制性和可观察性是SOC嵌入式内核测试电路最难解决的问题.本文提出在SOC嵌入式内核测试电路中引入DFT和BIST方法.介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其应用特点,讨论运用重配置的DFT方法和测试点插入的DFT方法来增强混合信号系统的可控制性和可观察性.阐述ADC/DAC与PLL两种电路的BIST技术在SOC嵌入式内核测试的应用.为解决SOC混合信号测试难题提供一种有效的方法.

著录项

来源
《电子测试》 |2008年第2期|69-72|共4页
作者
谭永红;
展开▼
作者单位

柳州运输职业技术学院,柳州,545007;

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
混合信号; IEEE 1149.4; 可测性设计; 内建自测试;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. SoC中混合信号测试与可测性设计研究 [J] . 魏淑华 ,侯明金 . 计算机研究与发展 . 2010,第S1期
2. 联华电子选择Agilent 93000 SOC系列测试仪——全球领先的半导体专工厂采用93000进行高速数字信号和混合信号测试 [J] . . 电子工程师 . 2006,第2期
3. 无线通信和消费电子融合芯片系统(SoC):对混合信号测试的意义 [J] . . 半导体技术 . 2004,第5期
4. 无线通信和消费电子融合系统芯片（SoC）对混合信号测试的意义 [J] . . 中国集成电路 . 2003,第046期
5. 模拟/混合电路SoC的设计难题 [J] . 麦凯 . 电子产品世界 . 2002,第008期
6. SOC混合信号测试难题的解决策略 [C] . 谭永红 . 第九届国际电子测试与测量专业研讨会暨2008质量认证与测试技术峰会 . 2008
7. 基于IEEE Std 1500的SoC混合信号测试技术研究 [A] . 江志强 . 2012

SOC混合信号测试难题的解决策略

摘要

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅