基于ATE的芯片射频性能测试研究

摘要

本文基于MBAV8+的测试方法,在实际应用中容易受到测试环境影响,造成增益值测试结果存在异常现象的问题,为此,开展基于ATE的芯片射频性能测试研究。首先,明确ATE测试设备以及被测芯片的基本内容,在此基础上,对电路板进行测试,利用ATE测试芯片发射性能以及芯片接收性能测试。通过实验证明,研究的测试方法抗干扰能力更强,能够得到芯片准确的增益值,进一步提高测试精度。