首页> 中文期刊>电子技术与软件工程 >MOS器件动态参数测试方法研究

MOS器件动态参数测试方法研究

     

摘要

本文介绍了MOS器件部分动态参数的测试方法,较为详细的阐述了MOS器件的动态参数的测试原理和测试过程,对解决MOS器件动态参数测试问题有较为实用的意义。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号