采用电编程熔丝调节芯片参数的测试流程

摘要

利用电子的迁移特性可以生成一种微小的熔丝结构,这种熔丝结构称为电编程熔丝eFUSE,可以在芯片上编程。为了提高芯片测试的准确性并降低测试成本,eFUSE被广泛的用于芯片的设计中,用来调整芯片的各项参数。本文主要介绍了一种采用eFUSE调节芯片参数的测试流程,并通过与传统的芯片参数调节方法作对比,展示出采用eFUSE的优势。