依附于SRAM的XILINX FPGA单粒子翻转测试

摘要

依附于SRAM（静态随机存取存储器）的XILINX FPGA（赛灵思现场可编程门阵列）具有结构繁琐及资源丰富的特性,在对其予以单粒子试验过程,只有侧重于其特点,设计有针对性的单粒子测试方式才可以精准的获取芯片中的单粒子特性,进而为抗辐设计铺平道路。