首页> 中文期刊> 《电子元件与材料 》 >表面波机电耦合系数k_s的相位干涉法测定

表面波机电耦合系数k_s的相位干涉法测定

             

摘要

一、引言表面波技术的发展,对表面波器件以至基片材料提出了各项相应的要求。为了设计高质量的器件或得到正确的理论研究结果,就要求有准确而又迅速的参数测试方法,本文想就应用相位干涉法测量表面波压电陶瓷

著录项

  • 来源
    《电子元件与材料 》 |1982年第2期|P.4-6|共3页
  • 作者

    邵启文;

  • 作者单位

    四川大学;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 G6;
  • 关键词

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号