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片上NOR-flash内嵌自测试的算法选择

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摘要

从flash存储器的基本工作原理出发,基于flash错误模型的总结性研究,重点对Flash-march算法、March-FT算法、BF&D算法以及Cocktail-March算法的效率进行了分析和评价,并针对不同需求的flash自测试提出了其算法选择方案.

著录项

来源
《电子元器件应用》 |2010年第8期|24-27|共4页
作者
王栋; 孙建; 于忠臣;
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作者单位

北京工业大学北京市嵌入式重点实验室,北京,100124;

北京工业大学北京市嵌入式重点实验室,北京,100124;

北京工业大学北京市嵌入式重点实验室,北京,100124;

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正文语种 chi
中图分类
关键词
flash; 内建自测试算法; 片上系统;

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