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杨帅举; 王泽锡; 李雪;
中国电子科技集团公司第二十七研究所 郑州450047;
LCCC 有限元分析 可靠性;
机译:Sn-3.0Ag-0.5Cu焊点在温度循环和电流作用下的热疲劳寿命
机译:温度循环条件下倒装芯片封装热力学行为的三维有限元分析
机译:窄结温度循环对IGBT模块中固晶焊层影响的实验研究
机译:双凸点焊点在温度循环载荷下的应力应变有限元分析
机译:锡铅和无铅焊点在等温老化下的微观结构变化及其对热疲劳可靠性的影响,包括混合焊点在等温老化下的微观结构变化
机译:P38丝裂原激活蛋白激酶抑制剂改善了血小板体外参数体内存活中的SCID小鼠输血模型用于储存在冷或温度循环条件下的血小板14天
机译:通过实验测量和有限元分析焊接温度分布和厚焊板中的厚焊板残余应力
机译:作者:郝志勇,王秉纲,王秉纲,焊管WELDED pIpE aND TUBE中心偏心循环荷载作用下焊管底切效应的实验研究。
机译:具有免焊金凸点触点的半导体器件可在重复的温度循环中保持稳定
机译:电气安装设备,例如钥匙开关或按钮-具有第二可移动触点,该第二可移动触点在一个状态下将两个固定触点连接在一起,而在断开状态下无电流
机译:一种类型的半导体器件,其中节点在一种时钟状态下被预充电,而在另一种时钟状态下被选择性地放电
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