首页> 中文期刊>光电技术应用 >一种对多光谱成像侦察设备的干扰效果评估方法

一种对多光谱成像侦察设备的干扰效果评估方法

     

摘要

分析了多光谱成像侦察设备干扰效果评估因素.依据多光谱成像侦察设备不同通道在同一像素的灰度值构成的光谱特征曲线的相关度,计算对目标的识别概率.依据干扰后与干扰前多通道光谱成像设备对目标的识别概率之比,提出一种对多光谱成像侦察设备的干扰效果评估准则,可用于评价对多光谱成像侦察设备的干扰效果.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号