一种基于阻抗法的CVT介损测量方法研究

摘要

介损是表征CVT运行性能的重要指标,其准确测量与否直接影响着CVT的预试效果.针对介损偏高时的故障诊断和辨识,提出一种基于阻抗法的介损测量方法.仿真结果表明,表征CVT外表面泄漏电流的外阻主要影响介损频率特性的低频段,而内阻主要影响介损频率特性的高频段,因此可通过介损频率曲线的低频和高频段差异对CVT设备进行故障识别,提升运维准确性和效率.