GaN HEMT小信号自动测试系统设计

摘要

GaN HEMT器件在高频和大功率通信领域有着广泛的应用。在流片制造过程中,手动微波测试已不能满足器件性能监控的要求。本文在改进传统手动测试的基础上,介绍了一种基于Agilent VEE语言来实现器件微波小信号自动测试系统的方法。该系统解决了器件自动测试、等效电路参数计算和数据存储等问题,实现了整个测试过程自动化,大幅提升了测试效率。