生长温度稳定性对两面顶细粒度金刚石性能的影响

摘要

在两面顶细粒度金刚石合成中采用PtRh30-PtRh6(双铂铑热电偶)测量温度,测得了合成芯块内部温度,得出了加热功率曲线与晶体生长温度的对应关系.根据多次实验结果,建立了生长温度稳定性具有显著差异的四种典型功率曲线;并分析了各曲线对应的温度变化趋势及幅度,四种曲线中温度变化幅度最大超过70℃,最小可控制在10℃以内.对各曲线合成的金刚石进行了扫描电镜(SEM)及专门的产品指标对照分析,发现晶体生长温度越稳定晶体质量越好;将晶体生长温度控制在10℃以内,能使细粒度晶体质量的综合指标提高5%-10%.