上海市社区居民糖调节受损流行特点及影响因素的logistic回归分析

摘要

[目的]调查上海市社区居民糖调节受损的流行病学特征,探讨糖耐量受损(IGT)、空腹血糖受损(IFG)的危险因素。[方法]对上海市13 495人展开IGT和IFG流行病学调查,运用单因素和多因素非条件logistic回归分析,探讨影响IGT、IFG发生的危险因素。[结果]IGT、IFG患病率为6．95％、1．75％(世界人口标化率为4．42％、1．03％),随着年龄的增加,IGT、IFG患病率逐步升高;进入多因素非条件logistic回归模型的因素有年龄、超重、肥胖、腰臀比(WHR)、三酰甘油(TG)、高血压、糖尿病家族史(P<0．05或P<0．01)。[结论]糖调节受损具有高龄群体高患病的增龄特点;年龄、超重、肥胖、WHR、TG、高血压、糖尿病家族史为糖调节受损的主要危险因素。