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GIS中支撑绝缘子的表面电荷积聚

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摘要

阐述GIS中支撑绝缘子表面电荷积聚对沿面闪络特性的影响及其闪络机理,分析表面电荷的来源及影响电荷积聚的因素,并介绍利用电容探头测量绝缘子表面电荷分布的方法.

著录项

来源
《高压电器》 |1994年第3期|41-45|共5页
作者
刘志民; 邱毓昌;
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作者单位

西安交通大学;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TM591.3;
关键词
封闭式; 组合电器; 电荷积聚;

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