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关于X射线衍射法测定微观应力的表征值的讨论

         

摘要

本文以Macherauch内应力分类法为依据,指出存在于各个晶粒的第Ⅱ类内应力(即微观应力)的值是一个随机变量.通常由X射线衍射线的线形分析获得的所谓微观应力值只是第Ⅱ类内应力的离差;而导致衍射线附加位移的伪宏观应力是其均值.

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