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光热位移光谱技术在GaTe特征参量测量中的应用

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本文介绍光热位移光谱以及半导体GaTe的光热位移信号与调制频率之间的函数关系，这一复杂而特殊的关系可通过自由载流子的寿命和扩散效应去解释．

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来源
《光子学报》 |1997年第1期|52-55|共4页
作者
张振杰;
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作者单位

西北大学物理系;

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正文语种 chi
中图分类 TN304.23;TN304.07;
关键词
热扩散长度; 光热位移光谱; 带隙; 碲化镓;

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