基于并发改进偏最小二乘的质量相关和过程相关的故障诊断

摘要

并发潜结构投影(CPLS)与传统贡献图法是多元统计过程监控中常用的故障检测与诊断方法.过程监控通常要求监测的时效性与诊断的准确性,然而,由于CPLS计算复杂以及传统贡献图诊断结果易受初始贡献较大的变量影响,因此它们反馈的监控结果可能并不准确.针对上述问题分别提出一种并发改进偏最小二乘(CMPLS)方法和新的相对贡献图法(NRC).首先,CMPLS将输入和输出数据同时投影到与过程相关或质量相关的多个子空间,在相应子空间分别构造适用于各种故障报警的监测指标进行过程监测;然后,结合所提出的NRC进行故障识别.所提方法对过程故障实现全面监测的同时避免了过多的迭代过程,并消除了过程变量中对检测指标初始贡献较大变量的影响.最后利用数值仿真和田纳西伊士曼过程验证了所提方法的有效性.