边缘模式比对高精度测长技术研究

摘要

边缘在图像检测中有着重要的作用.本文利用参考标尺作为检测基准,采用边缘模式比对的方法,基于亚像素技术设计高精度的边缘检测算法,获得被测物的亚像素级边缘位置.算法精度高,具有抗噪声,抗抖动,抗倾斜等优点,并且对图像传感器件分辨率要求较低,特别适用于复杂生产环境下高精度的视觉测量.