应用多次匹配滤波技术进行垂向位场分离

摘要

位场信号的径向平均对数振幅谱可以由多条斜率不同的直线段拟合，直线的斜率即为相应的等效层的深度。当相对于某一参考面，场源深度相对地相差不多时，在对数振幅谱上就难以将其区分，而经过匹配下延处理，场源的深度发生相对变化，选择适当的下延浓度，在对数振谱上又可区分，此时经第二次匹配滤波又可进一步细分位场信号。