铜钴矿样品X荧光快速测定技术的初步研究

摘要

使用基于Si-PIN探测器和嵌入式计算机的便携式高能量分辨率X荧光(XRF)分析仪,对采自刚果(金)的铜钴矿样品进行测量.通过对实测数据的处理与分析,分含量段建立目标元素的工作曲线,同时求出相应的基体效应校正模型,并编制到仪器内置X荧光分析应用软件中.实现仪器根据实测多道微分谱线中相关元素的特征X射线计数率,自动切换工作曲线与基体效应修正模型,快速输出Cu和Co的含量的测定结果.通过与化学分析结果比较,快速测定结果精确度较高.