最小权点覆盖的扫描测试向量生成算法

摘要

现有的边界扫描测试算法,多数主要通过建立无限制短路故障模型来生成测试向量,但以此方法构造的测试矩阵紧凑性指标较差.提出了一种利用可能性理论下有限制故障模型的最小权点覆盖集进行测试向量生成.首先,通过分析Protel DXP提供的电路板网表信息建立网络近邻关系图,即赋权图.然后结合Dijkstra算法求取初始点到其余各点的最短路径,并根据最短路径的最大值依照相关准则确定点覆盖集,并给出了具体的算法步骤;最后根据所得出的最小权点覆盖集生成测试矩阵.最后以某大型机载电路板为研究样例,进行理论分析及实验验证表明,上述方法与传统方法相比,获得的测试矩阵具有较好的紧凑性,算法性能有了大幅度提升.