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黄莹; 王直杰;
东华大学,上海201620;
集成电路; DRC验证; Calibre技术; 版图; 金属密度;
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机译:0.1μmAlGaN / GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)工艺的改进大信号模型及其在W波段实用单片微波集成电路(MMIC)设计中的应用
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机译:半导体集成电路的版图设计方法,版图设计装置以及版图设计程序
机译:验证半导体集成电路的掩模版图设计数据的方法
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