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集成电路高层故障模型评估方法

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摘要

给出了利用测试向量进行评估的基本理论方法,以及强对应集和弱对应集的定义及推论.按该方法,依不同模型生成测试向量,然后进行相互间的覆盖计算,以比较模型的优劣.最后对ITC99-benchmark电路进行实验,结果表明该方法是有效的.

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来源
《计算机工程》|2006年第4期|228-229232|共3页
作者
杨修涛; 鲁巍; 李晓维;
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作者单位

中国科学院计算技术研究所,北京,100080;

中国科学院研究生院,北京,100039;

中国科学院计算技术研究所,北京,100080;

中国科学院研究生院,北京,100039;

中国科学院计算技术研究所,北京,100080;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类设计与性能分析;
关键词
模型评估; 强对应集; 弱对应集;
入库时间 2022-08-18 04:29:32

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