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基于V码的高可靠性磁盘阵列容错模型

     

摘要

在磁盘阵列模型中,关键是如何实现容许多个磁盘阵列故障使得系统性能达到最优.该文提出了一类新的纠双错编码――V码,使用该编码的磁盘阵列数据布局,阵列的盘数可以为偶数,校验信息均匀分散在阵列每个盘中,容许任意2个磁盘故障.与其它纠双码的磁盘阵列布局进行比较,当阵列盘数为偶数时,V码阵列布局具有最优性能,编译码复杂度、冗余率达到最低以及小写性能最优,利于解决磁盘阵列I/O问题.

著录项

  • 来源
    《计算机工程》|2007年第8期|3-513|共4页
  • 作者

    万武南; 孟庆春; 王晓京;

  • 作者单位

    中国科学院成都计算机应用研究所,成都,610041;

    成都信息工程学院,成都,610225;

    中国科学院成都计算机应用研究所,成都,610041;

    中国科学院成都计算机应用研究所,成都,610041;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 容错技术;
  • 关键词

    V码; RAID; 纠错码;

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