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基于广义霍夫变换的芯片检测

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摘要

传统的广义霍夫变换空间复杂度及时间复杂度都很高,不适用于实时的应用.针对该问题,提出一种基于广义霍夫变换的芯片检测算法,降低了计算复杂度.该算法的主要思想是将多尺度分析与广义霍夫变换相结合.将该算法应用到自动光学检测系统的芯片检测中,取得了较好的检测结果.

著录项

来源
《计算机工程》 |2009年第23期|252-254257|共4页
作者
张小军; 胡福乔;
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作者单位

上海交通大学电子信息与电气工程学院;

上海;

200240;

上海交通大学电子信息与电气工程学院;

上海;

200240;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TP391.41;
关键词
广义霍夫变化; 芯片检测 ; 物体识别 ;

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