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一个多算法集成的灵活并行测试生成原型系统

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并行测试生成原型系统PATGTA基于串行ASIC测试生成和可测性分析系统ATGTA, 采用PVM作为并行支撑环境,可方便地移植于各种并行计算环境,采用主从模式开发并集成了多种并行算法.对Benchmark-89电路的实验结果表明,PATGTA性能良好.

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来源
《计算机工程与科学》|2001年第5期|70-73101|共5页
作者
刘蓬侠; 曾芷德; 李思昆;
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作者单位

国防科技大学计算机学院;

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国防科技大学计算机学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类逻辑电路;
关键词
测试生成; PVM; 并行; 原型系统;
入库时间 2023-07-25 10:48:52

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