高可靠8051中系统管理单元的设计与实现

摘要

微处理器的应用领域越来越广泛.由于应用环境的复杂,微处理器面临的各种干扰日益严重,从而对它的可靠性要求越来越高.针对微处理器最常见的故障源--单粒子翻转效应,本文分析了常用的三模冗余(TMR)技术,并采用了一种新的冗余技术--时空三模冗余技术(ST-TMR)对8051微处理器中的系统管理单元进行加固.最后,对其可靠性进行了测试与分析.