基于EFSM的最小测试用例集生成方法

摘要

cqvip:影响测试成本的主要因素是测试用例集规模和测试用例的总长度,为降低测试成本,对测试用例生成技术进行研究,提出一种基于集合覆盖理论的最小测试用例集生成方法。设计迁移覆盖算法,其中引入关键迁移概念,设计最小测试用例集算法用于合并迁移覆盖算法输出的集合,得到最小测试用例集。实验结果表明,所提方法得到的最小测试用例集,降低了测试成本,提高了测试效率。