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计算机辅助测试性设计中的测试性改善最大化问题研究

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摘要

基于边界扫描的计算机辅助电路板测试性设计中,面临着"设计复杂性一定时,如何权衡设计使得测试性改善最大"的问题.文章首先建立了该问题的数学描述,然后提出了求解问题的优化算法.仿真实验表明,该算法能够得到较优化的电路板测试性设计方案.

著录项

来源
《计算机工程与应用》 |2002年第17期|16-17,51|共3页
作者
刘冠军; 易晓山; 柳新民;
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作者单位

国防科技大学机电工程与自动化学院;

长沙;

410073;

国防科技大学机电工程与自动化学院;

长沙;

410073;

国防科技大学机电工程与自动化学院;

长沙;

410073;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TP391.76;
关键词
计算机辅助测试性设计; 边界扫描; 测试性优化设计;

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