计算机辅助测试性设计中的测试性改善最大化问题研究

摘要

基于边界扫描的计算机辅助电路板测试性设计中,面临着"设计复杂性一定时,如何权衡设计使得测试性改善最大"的问题.文章首先建立了该问题的数学描述,然后提出了求解问题的优化算法.仿真实验表明,该算法能够得到较优化的电路板测试性设计方案.