嵌入式微处理器的可测性设计技术研究

摘要

文章介绍了一个嵌入式微处理器的可测性设计技术.根据嵌入式微处理器各个组成部件逻辑功能的特点,分别采用了内置自测试(BIST)、部分扫描(Partial Scan)、边界扫描(Boundary Scan)等方法完成各个部件的可测性设计,并将符合IEEE1149.1的TAP控制器作为整个微处理器的测试控制器,达到了较优的可测性设计结果.