集成电路中冒险的检测和消除

刘国华; 余潇洋; 闵应骅; 李晓维

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集成电路中冒险的检测和消除

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CM0S集成电路中的冒险现象会增大电路的功耗,所以对集成电路中冒险的检测和消除的研究十分重要.文章分别对集成电路中原始输入单跳变,和多跳变两种情况下产生的冒险现象进行了研究,提出了检测和消除冒险的方法文章的方法可以在非常短的时间内检测出电路中可能产生冒险的点,对于单个原始输入跳变的情况可以通过增加很少的电路开销来消除一部分冒险点.

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来源
《计算机工程与应用》|2002年第14期|211-214|共4页
作者
刘国华; 余潇洋; 闵应骅; 李晓维;
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作者单位

中国科学院计算技术研究所,北京,100080;

中国科学院计算技术研究所,北京,100080;

中国科学院计算技术研究所,北京,100080;

中国科学院计算技术研究所,北京,100080;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类基本电路;
关键词
跳变; 冒险; 带符号路径长度;
入库时间 2022-08-18 04:44:21

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