集成电路延迟时间测量结果的不确定度评定

LI Xiaohong; DENG Yongfang; ZHANG Liwei; CHEN Min; LI Zhen

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采用GB/T17574-1998《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》[1]第Ⅳ篇测试方法第3节动态测试的测试方法分别对某运算放大器、开关驱动器和标准模块的延迟时间进行测试,并按JJF1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》[2]、CNAS-CL07:2011《测量不确定度的要求》[3]、CNAS-GL08:2006《电器领域不确定度的评估指南》[4]的要求,对测量结果进行不确定度评定[5].

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来源
《计算机与数字工程》 |2019年第1期|19-23|共5页
作者
LI Xiaohong; DENG Yongfang; ZHANG Liwei; CHEN Min; LI Zhen;
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作者单位

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正文语种 chi
中图分类无线电计量;
关键词
集成电路; 延迟时间; 不确定度;

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