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程玲; 陈护勋;
武汉数字工程研究所;
存储器; 故障模型; 测试; 算法; 数字电路;
机译:嵌入式静态随机访问存储器的有效测试算法和诊断实现
机译:具有3D结构的管道式BiCS闪存技术,可实现超高密度非易失性存储器:实现了16个堆叠存储器的测试芯片,每层具有1 Gbit
机译:高速存储器测试仪“ V93000 HSM series”,可实现多代存储器的低成本测试
机译:硅可配置测试流程的新方法以及通过共享控制器测试,调试和表征不同类型的嵌入式存储器的算法
机译:通过并行算法的仿真实现实用的并行外部存储器算法。
机译:线性存储器中隐马尔可夫模型的EM和Viterbi算法实现
机译:通过数据压缩最小化存储器能量:算法,体系结构和实现
机译:分布式存储器计算机上Np完全算法的实现与分析
机译:使用测试控制代码算法对存储器进行并行测试-读取由存储器读取的控制代码,该代码在测试期间在给定逻辑电平的测试引脚上建立,并在测试结束时处于高阻抗状态
机译:用于测试存储设备的算法模式生成器和使用该算法模式生成器的存储器测试器
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