首页> 中文期刊> 《计算机与数字工程》 >基于AMSAA模型的弹上电子设备可靠性增长试验研究

基于AMSAA模型的弹上电子设备可靠性增长试验研究

     

摘要

采用工程界普遍使用的AMSAA模型,对某型弹上电子设备进行了可靠性增长试验,达到了预期的可靠性增长目标,验证了AMSAA模型方法的合理性,并简述了一种在AMSAA模型基础上采用牛顿迭代法来预测特定MTBF下的试验时间的方法,该方法合理可行,对开展可靠性增长与可靠性增长试验工作具有重要的实际意义.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号