A Selection Strategy of Test Node in Analogy Circuit with Sensitivity

著录项

• 来源
  《通讯和计算机》 |2011年第10期|P.895-898|共4页
• 作者

  Longfu Zhou; Yonghe Hu; Ming Zhao; Yibing Shi; Yi Sun; Hong Tang; Shuo Li;

  展开▼
• 作者单位

  ^p452nd;

  Hospital;

  ofPLA,;

  Chengdu;

  610061,;

  China;

  ^pof;

  Automation;

  Engineering,;

  University;

  of;

  Electronic;

  Science;

  and;

  Technology;

  of;

  China,;

  Chengdu;

  610054,China;

  展开▼
• 原文格式 PDF
• 正文语种 CHI
• 中图分类 TN710.07;
• 关键词

  测试节点; 模拟电路; 灵敏度; 选择策略; 故障诊断; 模糊理论; 故障状态; 故障隔离;