高压氧预处理诱导脊髓神经元氧化耐受作用研究

摘要

目的研究高压氧预处理对脊髓神经元氧化损伤的影响。方法取胚胎小鼠脊髓做神经元原代培养，分正常对照组、高压氧预处理组（0．35MPa、2h）和H2O2处理组（50μmol／L、37℃、1h）。通过形态学观察、MTT和单细胞凝胶电泳等试验方法观察H2O2处理所导致的神经元DNA损伤以及高压氧预处理对这种DNA损伤的影响。