微焦点X线相衬成像技术的边缘信号增强特性研究

摘要

目的:研究确定微焦点X射线相衬成像技术的边缘信号特性,以更好地从理论和实验角度,来解读X射线相衬成像结果中的图像信息,更好地确定基于微焦点的X射线相衬成像设备中的相关成像参数,以提高X射线相衬成像技术的应用效果.方法:本文以X射线的折射现象为物理基础,将菲涅耳衍射理论和傅立叶变换相结合,建立X线相衬图像对物体相位信息的二阶微分理论模型,揭示了微焦点X线相衬成像技术的边缘结构信号增强特性及其内涵.再通过计算机仿真实验和对真实光纤样品的物理实验,来观察和验证X线相衬成像技术的边缘结构信号增强特性.结果:计算机仿真实验和对真实光纤样品的物理实验的一致结果显示:基于微焦点的X线相衬成像技术,对样品的边缘结构信息具有明显的信号增强特性,通过相衬图像能够突出显示弱对比物体内部结构的边缘信息.结论:X线相衬成像是一种全新的成像方法,它弥补了传统成像方法在对弱吸收物质成像上的不足,研究证实,这种技术具有对样品内部的微细结构进行边缘增强的成像特性,这为进一步的技术开发和设备参数的优化提供了很好的研究基础.