X射线荧光光谱法快速测定FeSiB非晶合金薄带中硅、硼、铁

摘要

提出了以自制的标准样品,采用单点法绘制校准曲线,利用X射线荧光光谱仪测定FeSiB非晶薄带样品中硅、硼和铁的含量.对于4个FeSiB非晶合金薄带样品中硅、硼和铁进行了10次测定,其分析结果的相对标准偏差分别为0.4％～0.5％、1.3％～4.2％和0.2％～0.4％.方法的分析结果与火花源原子发射光谱法、化学重量法和电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法的测定值吻合较好.方法快速、简便,薄带样品无需制样,适用于FeSiB非晶合金薄带的快速成分分析.