高温漫反射红外光谱及探针分子识别分子筛中的羟基

摘要

采用高温漫反射红外光谱法研究分子筛羟基, 考察了温度、加热时间对高温光谱的影响.该方法结合NH3和C5H5N分子探针在298～823K对磷酸硅铝分子筛SAPO-34中的羟基进行了表征.结果表明, 3612 cm-1和3597 cm-1吸收峰表征的羟基位于SAPO-34分子筛的晶格中, 归属于两种桥联羟基(Si-OH-Al).两种羟基均具有酸性, 在823K时仍然稳定.