电荷耦合器件光度检测-深通道多相层流微流控芯片分析系统

沈宏; 叶美英; 方群; 殷学锋

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电荷耦合器件光度检测-深通道多相层流微流控芯片分析系统

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采用精密数控雕刻技术,加工用于微流控多相层流分析的深通道(深度500 μm)聚碳酸酯芯片,以提高芯片进行吸收光度检测的灵敏度.建立了无需辅助光学设备的近距离CCD二维图像光度检测系统,应用于三流路并行的多相层流比色分析.该芯片分析系统的特点是芯片加工快捷,检测灵敏度高,检测光程较常规芯片增加1个数量级;系统结构简单,易于推广.

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来源
《分析化学》 |2005年第11期|1659-1662|共4页
作者
沈宏; 叶美英; 方群; 殷学锋;
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作者单位

浙江大学化学系,微分析系统研究所,杭州,310028;

浙江大学化学系,微分析系统研究所,杭州,310028;

浙江大学化学系,微分析系统研究所,杭州,310028;

浙江大学化学系,微分析系统研究所,杭州,310028;

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正文语种 chi
中图分类化学;
关键词
微流控芯片; 多相层流分析; 电荷耦合器件光度检测;

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