首页> 中文期刊> 《中国科技博览》 >TiO2/SiO2复合薄膜的光学性能研究

TiO2/SiO2复合薄膜的光学性能研究

         

摘要

本文采用射频磁控溅射方法制备了TiO2/SiO2复合薄膜。采用XRD、台阶仪和UV—ViS等测试手段表征薄膜的晶体结构、膜厚和光学性能。系统研究了溅射气氛、溅射时间以及踺掺杂量对TiO2/SiO2复合薄膜光学性能的影响。结果表明,TiO2/SiO2薄膜对紫外波段光波吸收强度与溅射时间成正比,与氧气含量成反比。随着氧气含量的降低,薄膜的光波吸收限?g向长波方向移动,即吸收波长呈现出明显的“红移”。随着Si、Ti摩尔比的增加,薄膜的光波吸收限?g向短波方向移动,即吸收波长呈现出明显的“蓝移”。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号