毁损杏仁核不同亚核群对大鼠记忆和行为的影响

摘要

目的观察分别毁损大鼠杏仁核不同部位后记忆和行为的变化,探讨杏仁内、外侧核群在记忆和行为调节中的作用.方法用立体定向技术将电极插入大鼠杏仁核的内、外侧核群后通电毁损,用被动逃避实验和空旷实验测定并分析毁损组和对照组大鼠自由活动量、探究行为以及对伤害记忆的影响.结果外侧核群毁损组空旷实验中直立次数和爬行格数分别为3.25±1.58和50.88±17.44,进入黑箱的潜伏时间为137.52±42.19s.与对照组相比其直立次数有极显著差异(P＜0.01),潜伏时间有显著性差异(P＜0.05).内侧核群毁损组直立次数为6.13±4.55,与对照组相比显著降低(P＜0.05), 而潜伏时间和爬行格数无显著性差异(P>0.05).内侧和外侧核群毁损组相比,外侧核群毁损组的直立次数和潜伏时间显著低于内侧核群毁损组(P＜0.05),爬行格数则无显著性差异(P>0.05).结论杏仁核参与动物对新奇环境的探究行为,其中外侧核群的作用尤其重要;对于非目的性的行为,杏仁核的内、外侧核群无明显影响;外侧核群参与躯体伤害的记忆,而内侧核群则与此无关.