原生硅片在线电性能质量控制已成可能——BT Imaging最新推出QS-W1硅片分选机

摘要

5月5日，SNEC（2010）第四届国际太阳能光伏大会暨（上海）展览会在上海盛大召开。展会上，在光致发光检测仪和质量控制体系研究领域居世界领先的澳洲供应商BT Imaging携最新硅片电性能缺陷自动分选机QS-W1重装亮相。BT Imaging展位前人潮涌动，咨询产品的客户络绎不绝。记者见机采访了BT Imaging的市场营销副经理韦恩·麦克米伦先生。