一种国产芯片自动化测试方法的实现和应用

摘要

随着设备国产化改造需求的日益增长,国产芯片的应用也愈加广泛,但大部分国产芯片的功能和性能最初并不稳定,这直接影响了使用芯片的设备的稳定性.为了提高测试效率和准确性,设计一种针对国产芯片的自动测试方法,可以对多块芯片进行长时间全自动的功能和性能测试,筛选出缺陷样本,大大减轻了人工测试的工作量,提高了设备稳定性.