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一种行为级可测试性综合方法

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摘要

伴随着高层次综合技术的普及和深入,高层次可测试性综合技术引起了广泛的关注.在简单介绍当前可测试性综合技术的现状后,提出了采用"VHDL进,VHDL出"的方式进行行为级可测试性综合的流程,并提出了一个新的行为级可测试性分析算法,然后讨论了测试点的选择、可测试结构的规范化描述和自动插入的技术与方法.

著录项

来源
《计算机应用研究》 |2004年第10期|51-53|共3页
作者
李瑛; 高德远; 张盛兵;
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作者单位

西北工业大学;

航空微电子中心;

陕西;

西安;

710072;

西北工业大学;

航空微电子中心;

陕西;

西安;

710072;

西北工业大学;

航空微电子中心;

陕西;

西安;

710072;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TP391.76;
关键词
测试; 可测试性分析; 可测试性综合; 行为级综合;

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